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SN74ABT18640DGGR

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  • 제품 모델
    SN74ABT18640DGGR
  • 제조업체 / 브랜드
  • 재고 수량
    유품
  • 기술
    IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP
  • 무연 여부 / RoHS 준수 여부
    무연 / RoHS 준수
  • 전원 전압
    4.5 V ~ 5.5 V
  • 제조업체 장치 패키지
    56-TSSOP
  • 연속
    74ABT
  • 포장
    Tape & Reel (TR)
  • 패키지 / 케이스
    56-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
  • 다른 이름들
    296-3941-2
  • 작동 온도
    -40°C ~ 85°C
  • 비트 수
    18
  • 실장 형
    Surface Mount
  • 수분 민감도 (MSL)
    1 (Unlimited)
  • 논리 형
    Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers
  • 무연 여부 / RoHS 준수 여부
    Lead free / RoHS Compliant
  • 상세 설명
    Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers IC 56-TSSOP
  • 기본 부품 번호
    74ABT18640
SN74ABT18245ADGGR

SN74ABT18245ADGGR

기술: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
SN74ABT18245ADLR

SN74ABT18245ADLR

기술: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
SN74ABT18504PMR

SN74ABT18504PMR

기술: IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
SN74ABT18504PMG4

SN74ABT18504PMG4

기술: IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
SN74ABT18640DLR

SN74ABT18640DLR

기술: IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
SN74ABT18504PM

SN74ABT18504PM

기술: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
SN74ABT18640DLRG4

SN74ABT18640DLRG4

기술: IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
SN74ABT2240AN

SN74ABT2240AN

기술: IC BUFFER INVERT 5.5V 20DIP

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
SN74ABT18640DL

SN74ABT18640DL

기술: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
SN74ABT18504PMRG4

SN74ABT18504PMRG4

기술: IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
SN74ABT2240ADW

SN74ABT2240ADW

기술: IC BUFFER INVERT 5.5V 20SOIC

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
SN74ABT2240ANSR

SN74ABT2240ANSR

기술: IC BUFFER INVERT 5.5V 20SO

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
SN74ABT18245ADL

SN74ABT18245ADL

기술: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
SN74ABT18502PM

SN74ABT18502PM

기술: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
SN74ABT16952DLRG4

SN74ABT16952DLRG4

기술: IC TXRX NON-INVERT 5.5V 56SSOP

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
SN74ABT18502PMR

SN74ABT18502PMR

기술: IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
SN74ABT18646PM

SN74ABT18646PM

기술: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
SN74ABT2240ADWR

SN74ABT2240ADWR

기술: IC BUFFER INVERT 5.5V 20SOIC

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
SN74ABT18652PM

SN74ABT18652PM

기술: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
SN74ABT2240ADBR

SN74ABT2240ADBR

기술: IC BUFFER INVERT 5.5V 20SSOP

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품

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