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SN74ABT8652DLG4

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유품
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규격
  • 제품 모델
    SN74ABT8652DLG4
  • 제조업체 / 브랜드
    Luminary Micro/Texas Instruments
  • 재고 수량
    유품
  • 기술
    IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP
  • 무연 여부 / RoHS 준수 여부
    무연 / RoHS 준수
  • 전원 전압
    4.5 V ~ 5.5 V
  • 제조업체 장치 패키지
    28-SSOP
  • 연속
    74ABT
  • 포장
    Tube
  • 패키지 / 케이스
    28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
  • 작동 온도
    -40°C ~ 85°C
  • 비트 수
    8
  • 실장 형
    Surface Mount
  • 수분 민감도 (MSL)
    1 (Unlimited)
  • 제조업체 표준 리드 타임
    6 Weeks
  • 논리 형
    Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
  • 무연 여부 / RoHS 준수 여부
    Lead free / RoHS Compliant
  • 상세 설명
    Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers IC 28-SSOP
  • 기본 부품 번호
    74ABT8652

Unleashing High-Performance DSP: A Deep Dive into TI TMS320...

2024년11월15일

Texas Instruments: An all-round player from analog to embedded

2024년11월14일
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SN74ABT8646DLR

SN74ABT8646DLR

기술: IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
RFQ
SN74ABT8646DWRG4

SN74ABT8646DWRG4

기술: IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
RFQ
SN74ABT8652DW

SN74ABT8652DW

기술: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
RFQ
SN74ABT863NTG4

SN74ABT863NTG4

기술: IC TXRX NON-INVERT 5.5V 24DIP

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
RFQ
SN74ABT8652DL

SN74ABT8652DL

기술: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
RFQ
SN74ABT8952DLRG4

SN74ABT8952DLRG4

기술: IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
RFQ
SN74ABT8652DWRE4

SN74ABT8652DWRE4

기술: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
RFQ
SN74ABT8652DLR

SN74ABT8652DLR

기술: IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
RFQ
SN74ABT8646DWR

SN74ABT8646DWR

기술: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
RFQ
SN74ABT863NT

SN74ABT863NT

기술: IC TXRX NON-INVERT 5.5V 24DIP

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
RFQ
SN74ABT8952DL

SN74ABT8952DL

기술: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
RFQ
SN74ABT8646DW

SN74ABT8646DW

기술: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
RFQ
SN74ABT8646DWRE4

SN74ABT8646DWRE4

기술: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
RFQ
SN74ABT8952DLR

SN74ABT8952DLR

기술: IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
RFQ
SN74ABT8652DWR

SN74ABT8652DWR

기술: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
RFQ
SN74ABT8652DWRG4

SN74ABT8652DWRG4

기술: IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
RFQ
SN74ABT8952DW

SN74ABT8952DW

기술: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
RFQ
SN74ABT8646DL

SN74ABT8646DL

기술: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
RFQ
SN74ABT8646DLG4

SN74ABT8646DLG4

기술: IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
RFQ
SN74ABT8652DLRG4

SN74ABT8652DLRG4

기술: IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
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