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SN74BCT8244ANT

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규격
  • 제품 모델
    SN74BCT8244ANT
  • 제조업체 / 브랜드
    Luminary Micro/Texas Instruments
  • 재고 수량
    유품
  • 기술
    IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
  • 무연 여부 / RoHS 준수 여부
    무연 / RoHS 준수
  • 전원 전압
    4.5 V ~ 5.5 V
  • 제조업체 장치 패키지
    24-PDIP
  • 연속
    74BCT
  • 포장
    Tube
  • 패키지 / 케이스
    24-DIP (0.300", 7.62mm)
  • 다른 이름들
    296-33847-5
    SN74BCT8244ANT-ND
  • 작동 온도
    0°C ~ 70°C
  • 비트 수
    8
  • 실장 형
    Through Hole
  • 수분 민감도 (MSL)
    1 (Unlimited)
  • 논리 형
    Scan Test Device with Buffers
  • 무연 여부 / RoHS 준수 여부
    Lead free / RoHS Compliant
  • 상세 설명
    Scan Test Device with Buffers IC 24-PDIP
  • 기본 부품 번호
    74BCT8244

Unleashing High-Performance DSP: A Deep Dive into TI TMS320...

2024년11월15일

Texas Instruments: An all-round player from analog to embedded

2024년11월14일
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다음은 "SN74BCT8244ANT"관련 제품입니다.
SN74BCT8240ADWRG4

SN74BCT8240ADWRG4

기술: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
RFQ
SN74BCT8240ADW

SN74BCT8240ADW

기술: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
RFQ
SN74BCT760NSR

SN74BCT760NSR

기술: IC BUFFER NON-INVERT 5.5V 20SO

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
RFQ
SN74BCT8244ADW

SN74BCT8244ADW

기술: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
RFQ
SN74BCT8240ANT

SN74BCT8240ANT

기술: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
RFQ
SN74BCT8373ADWR

SN74BCT8373ADWR

기술: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
RFQ
SN74BCT8373ANT

SN74BCT8373ANT

기술: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
RFQ
SN74BCT8373ADW

SN74BCT8373ADW

기술: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
RFQ
SN74BCT8244ANTG4

SN74BCT8244ANTG4

기술: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
RFQ
SN74BCT8373ADWRE4

SN74BCT8373ADWRE4

기술: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
RFQ
SN74BCT8240ADWR

SN74BCT8240ADWR

기술: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
RFQ
SN74BCT8373ADWRG4

SN74BCT8373ADWRG4

기술: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
RFQ
SN74BCT8244ADWE4

SN74BCT8244ADWE4

기술: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
RFQ
SN74BCT8244ADWR

SN74BCT8244ADWR

기술: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
RFQ
SN74BCT8245ADW

SN74BCT8245ADW

기술: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
RFQ
SN74BCT8245ANTG4

SN74BCT8245ANTG4

기술: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
RFQ
SN74BCT8240ANTG4

SN74BCT8240ANTG4

기술: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
RFQ
SN74BCT8245ANT

SN74BCT8245ANT

기술: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
RFQ
SN74BCT8240ADWRE4

SN74BCT8240ADWRE4

기술: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
RFQ
SN74BCT8245ADWR

SN74BCT8245ADWR

기술: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

제조업체: Luminary Micro / Texas Instruments
유품
RFQ
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